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KFM講習会~KFMの用途、原理、測定、解析まで

■日時 2017年12月19日(火) 13:00~17:00
■場所 大阪大学 産業科学研究所
■主催 ナノテクノロジープラットフォーム 分子・物質合成プラットフォーム
■共催 大学連携研究設備ネットワーク

=目的=
KFM(ケルビンフォース顕微鏡)は、走査プローブ顕微鏡(原子間力顕微鏡)による材料表面物性評価の一種であり、カンチレバーと試料との間に生じる静電気力から試料の表面電位を測定する手法である。太陽電池の開発や有機無機材料等の静電引力斥力を評価するのに用いられる。しかしながら、汎用的なAFMにKFMの機能がある装置が少なく、あまり広く利用されていなかったため、技術職員・支援員らがKFMの機能、操作についてより深く学ぶ機会がなかった。今回は、有機無機材料開発分野でのKFMの利用者の獲得に向け、KFMの機能について、実際に様々なサンプルの測定を行いながら全員参加型研修を行う。

定員 10名

=プログラム=
・13:00~16:00
KFMの概要の説明と測定実習【講師:田村政史(株式会社日立ハイテクサイエンス)】
「AFMを使用しているが、KFMはあまり知らない」という人向けに、KFMの概要を説明します。
実機の走査型プローブ顕微鏡(Nanonavi Real/E-Sweep、株式会社日立ハイテクサイエンス)を使用して、KFMの試料の準備方法や測定条件の設定方法などを実習します。
・16:00~17:00
KFMデータ解析についての講義【講師:松本卓也(大阪大学 理学部教授)】
仕事関数の求め方を実際のデータを使って習得します。

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