課題番号                ：S-20-NU-0032

利用形態                ：技術代行

利用課題名（日本語）    ：セラミック粒子の物性評価

Program Title (English) ：Properties evaluation of ceramic particles

利用者名（日本語）      ：山田健二

Username (English)     ：KENJI YAMADA

所属名（日本語）        ：日本ポリマー株式会社

Affiliation (English)  ：NIHON POLYMER CO., LTD.

１．概要（Summary ）

作製条件の異なる複数のセラミック粒子の試作品について、電子顕微鏡による表面観察を行ない、またＸ線回折装置により構成成分の比較を行なった。

電子顕微鏡による観察においては、セラミックの粒子径が原料の配合量と生成条件により変動することが確認できた。Ｘ線回折の結果では、各試料ともピークが重なる結果となり、作製条件の違いによる差は確認されなかった。

２．実験（Experimental）

異なる製法により作製した3種類のセラミック粒子について、下記装置を利用し、表面観察と構成成分の比較を行なった。

使用機器

走査型電子顕微鏡　JEOL社製　JSM-7500F

X線粉末回折装置　リガク社製　Smart Lab

3Kld/2dDSC

測定に際しては、事前に装置の概要や測定条件に関する説明をいただき、測定範囲や測定時の試料の作製方法を打合せした上で実施した。

３．結果と考察（Results and Discussion）

電子顕微鏡による観察により、セラミックの粒子径が原料の配合量と生成条件により変動することが確認できた。

Ｘ線回折の結果では、各試料とも回折チャートのピークが重なる結果となり、セラミックの作製条件の違いによる差は確認されなかった。

今回の測定で、走査型電子顕微鏡、X線粉末回折装置ともに使用方法が理解でき、今後も必要に応じて表面状態の観察や構成成分の把握のため活用していく。

４．その他・特記事項（Others）

測定装置の使用にあたり、名古屋大学分子・物質合成プラットフォームの坂口佳充特任教授・林育生氏、伊藤始氏、佐久間祐治氏に指導をいただきました。機器使用時に立ち会わせていただき、測定原理の説明や助言をいただきました。厚く御礼申し上げます。

５．論文・学会発表（Publication/Presentation）

なし

６．関連特許（Patent）

なし