利用報告書

有機粒子の内部状態確認および処方検討
長谷田 光保
根上工業株式会社

課題番号 :S-20-JI-0027
利用形態 :技術代行
利用課題名(日本語) :有機粒子の内部状態確認および処方検討
Program Title (English) :Confirmation of internal condition of organic particles and examination
of prescription
利用者名(日本語) :長谷田 光保
Username (English) :M. Haseda
所属名(日本語) :根上工業株式会社
Affiliation (English) :Negami Chemical Industrial Co., Ltd.

1.概要(Summary )
有機粒子において、粒子表面状態を確認する手法として電子顕微鏡(SEMもしくはTEMなど)を用いる。しかし、粒子内部状態を確認するには、有機粒子を切断する必要がある。そこで、粒子の形状を維持したまま切断する手法として、ミクロトームを用い、切断面を走査型電子顕微鏡(SEM)にて観察を行いました。

2.実験(Experimental)
注型に有機粒子を入れた後、エポキシ樹脂を用い硬化させることで試験片を作製した。
また、試験片の切断は、有機粒子が比較的柔らかいため液体窒素を用い約-50℃下で行う。
切断面より、有機粒子の内部状態の確認を走査型電子顕微鏡(SEM/弊社所有設備使用)にて観察を行った。

利用装置
・ミクロトーム(Leica EM UC-7-FC7)

3.結果と考察(Results and Discussion)
ミクロトームにより得られた試験片の断面を走査型電子顕微鏡(SEM)にて観察を行った結果、
これまで目視で確認することが出来なかった有機粒子内部状態を確認することが出来た。
また、多種の有機粒子を同様に確認することで処方による内部状態の違いを把握することが出来、今後検討する上で有効な手法であった。

4.その他・特記事項(Others)
東峰孝一技術専門員、小林祥子研究員には、技術代行および相談に応じていただきまして、感謝しております。

5.論文・学会発表(Publication/Presentation)
なし

6.関連特許(Patent)
なし

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