課題番号                ：S-19-NI-0016

利用形態                ：技術補助

利用課題名（日本語）    ：板状結晶性材料の高分解能TEM観察

Program Title (English) ：High-resolution TEM observation of plate-like crystalline materials

利用者名（日本語）      ：上田 友彦¹⁾

Username (English)      ：T.Ueda¹⁾

所属名（日本語）        ：1)パナソニック株式会社

Affiliation (English)   ：1)Panasonic Co. Ltd.

• 概要（Summary ）

板状に結晶成長させた板状結晶性材料に対して、ナノスケールの微細構造を明らかにする。

• 実験（Experimental）

溶媒分散させた板状結晶性材料をCuグリッド上カーボン支持膜に取り付けて、TEM観察試料とした。これを、日本電子社製JEM-ARM200Fにて、TEM観察を行った。

TEM観察には、主にHAADF STEM（High-angle Annular Dark Field Scanning TEM）モードを使用した。また、格子面間隔の算出は、HAADF STEM像から取得したFFT（Fast Fourier Transform）像を用いて実施した。

＜利用装置＞

・原子分解能分析電子顕微鏡（JEM-ARM200F：図1）

図1　原子分解能分析電子顕微鏡

• 結果と考察（Results and Discussion）

得られたHAADF-STEM像およびFFT像を図2に示す。これらの結果から、格子面間隔0.23nmと0.25nmの結晶面を有する板状結晶性材料が生成されていることを明らかにすることができた。

図2　HAADF-STEM像とFFT像

４．その他・特記事項（Others）

本研究は、文部科学省委託事業ナノテクノロジープラットフォーム課題として名古屋工業大学 分子・物質合成プラットフォームの支援を受けて実施されました。技術指導を実施して頂きました浅香准教授に深く感謝いたします。

５．論文・学会発表（Publication/Presentation）

なし

６．関連特許（Patent）

なし