課題番号 ：S-14-NU-0002
利用形態 ：技術補助
利用課題名（日本語） ：ZAIS ナノ粒子の物性測定
Program Title (English) ：Measurement of physical properties in ZAIS nano particles
利用者名（日本語） ：永田美彰, 溝口高央，新居一巳
Username (English) ：Y. Nagata, T. Mizoguchi, K. Nii
所属名（日本語） ：富士フイルム株式会社
Affiliation (English) ：Fujifilm Co., Ltd.

１．概要（Summary ）
ZAIS ナノ粒子の合成方法と発光特性の関係性を明確 にするための手法として、Ｘ線粉末回折装置、蛍光Ｘ 線分析装置による物性測定が有効であることがわか った。

２．実験（Experimental）
金属の仕込み比、合成方法を変えて合成した 11 種類 の ZAIS ナノ粒子について、以下 2 種の測定を行った。
①Ｘ線粉末回折装置(リガク社製　Ｓｍａｒｔ Ｌａｂ　３ＫＩｄ／２ｄＤＳＣ)による結晶構造の確認
②蛍光 Ｘ線分析装置(リガク社製　ＥＤＸＬ　３００)EDXL による金属組成比の確認
測定に際し、事前に装置の使用方法の説明を受け、目的の試料について自ら測定を実施した。測定を進めながら、得られてくる結果についての議論を行いながら実験を進めた。

３．結果と考察（Results and Discussion）
金属の仕込み比、合成方法により、ZAIS 粒子の粉末 X 線のピーク強度や金属の組成比が変化することが 確認できた。
今後の研究において両装置の活用が有効 であること

がわかった。また、それぞれの装置の原理 や使用方法を理解することができた。

４．その他・特記事項（Others）
測定サンプルの作製および測定装置の使用にあたり、名古 屋大学大学院工学研究科 鳥本教授にご指導いただいた。

５．論文・学会発表（Publication/Presentation） なし

６．関連特許（Patent） なし