課題番号 ：Ｓ-14-JI-0050
利用形態 ：技術代行
利用課題名（日本語） ：セラミック粒子に担持されたシリコンの分布状態の検証
Program Title (English) ：The measurement and of magnetic Oxide
利用者名（日本語） ：:近藤恵太
Username (English) ：K. Kondou
所属名（日本語） ：株式会社ウエキコーポレーション
Affiliation (English) ：Ueki, Co.Ltd.

１．概要（Summary ）
セラミック粒子の焼結性を向上させる研究を行っている。施策として一次粒子表面にシリコンを担持させることで、目的の効果が得られると考えている。シリコンが表面に吸着されているかその有無を原子分解能走査透過型電子顕微鏡(STEM日本電子社製 JEM-ARM200F)で観察した。

２．実験（Experimental）
原子分解能走査透過型電子顕微鏡･STEM日本電子社製 JEM-ARM200Fにて、一次粒子をEDX分析してシリコンが吸着されているかその有無を観察した。セラミック粒子表面にシリコンが吸着されていることが今回の測定で明らかになった。

３．結果と考察（Results and Discussion）

４．その他・特記事項（Others）
一連の測定は国立大学法人　北陸先端科学技術大学院大学で実施されました。測定していただいた技術サービス部　ナノマテリアルテクノロジーセンター　技術専門職員　東嶺孝一様、議論いただいたマテリアルサイエンス研究科　教授　大島義文に感謝申し上げます。

５．論文・学会発表（Publication/Presentation）
なし

６．関連特許（Patent）
なし