課題番号                ：S-20-NM-0006

利用形態                ：機器利用

利用課題名（日本語）    ：水溶液中におけるSi系粒子の分散安定性（ゼータ電位測定）

Program Title (English) ：Dispersion stability of Si filler in aqueous solution.

(Zeta potential measurement)

利用者名（日本語）      ：大久保勝也¹⁾, 引地健介²⁾, 杉直紀³⁾, 松下泰裕⁴⁾, 宮田絵美⁵⁾

Username (English)     ：K. Okubo¹⁾, K. Hikichi²⁾, N. Sugi³⁾, Y. Matsushita⁴⁾. E. Miyata⁵⁾

所属名（日本語）        ：1～5) 荒川化学工業株式会社

Affiliation (English)  ：1～5) Arakawa Chemical Industries, LTD.

１．概要（Summary ）

Si系フィラーには様々な種類があり、それぞれ異なった特徴がある。水溶液中に均一に分散させるためには、種々のSi系フィラーに適したpHやバインダー種を把握することが重要である。そこで、我々はゼータ電位測定を行うことで、各種Si系フィラーの表面状態を把握した。

２．実験（Experimental）

装置名：

レーザーゼータ電位計（大塚電子製ELSZ-1000）

実験方法：

測定用セルにサンプル（Si系フィラー分散水溶液）を入れて測定した。測定後、付帯ソフトを用いたデータ解析により、ゼータ電位の値を得た。

３．結果と考察（Results and Discussion）

Si系フィラーはマイナスの電荷を有しており、pHを上げていくと、さらにマイナスの値が大きくなっていくことが分かった。

４．その他・特記事項（Others）

NIMS 箕輪様、服部様にレーザーゼータ電位計の使用方法等で支援を受けた。

５．論文・学会発表（Publication/Presentation）

なし。

６．関連特許（Patent）

なし。