課題番号                ：S-19-NU-0047

利用形態                ：技術代行

利用課題名（日本語）    ：液晶性有機半導体薄膜の配向構造解析

Program Title (English) ：Orientational structure in liquid crystalline organic semiconductor thin films

利用者名（日本語）      ：藤井 彰彦

Username (English)     ：A. Fujii

所属名（日本語）        ：大阪大学 大学院工学研究科

Affiliation (English)  ：Graduate School of Engineering, Osaka University

１．概要（Summary ）

バーコート法によって作製したtert-ブチル基を導入したフタロシアニン（t-BuPcH2）薄膜の分子配向異方性を斜入射X線散乱（GI-XRS）によって評価した。

２．実験（Experimental）

t-BuPcH2の1,4-ジオキサン飽和溶液を調製し、バーコート法により薄膜を調整した。バーコード掃引速度を33μm/s、基板温度を60 °Cとした。バーコード掃引方向と平行および垂直方向にX線を入射し、GI-XRS測定を行った。

使用装置：光学アタッチメント・カスタマイズXRD装置（Rigaku製 FR-E）

３．結果と考察（Results and Discussion）

予め、作製したt-BuPcH2薄膜の偏光顕微鏡観察および偏光吸収スペクトルから、高い光学異方性を有することを確認した。Figure 1にバーコード掃引方向に平行(1a)および垂直方向(1b)に入射したGI-XRS測定の二次元プロファイルを示す。掃引方向に平行に入射した場合、t-BuPcH2のヘキサゴナルカラムナー構造に起因する散乱ピークが、面外方向および約60°方向に観察された(Figure 1a)。また、掃引方向に垂直に入射した場合、カラムナー構造に由来するピークは、面外方向のみに観察された(Figure 1b)。さらに、広角領域の2θ = 26.7°（d = 0.33 nm）にフタロシアニン面間に由来するピークが観察された(Figure 1b矢印)。以上の結果から、バーコート法にて作製したt-BuPcH2薄膜は、バーコード掃引方向に平行にカラムナー構造が高度に配向した構造を有することが明らかとなった。

Figure 1. 2D GI-XRS images of bar-coated t-BuPcH2 films with X-ray beam incidence parallel (a) and perpendicular (b) to the bar sweep direction.

４．その他・特記事項（Others）

なし

５．論文・学会発表（Publication/Presentation）

(1) G. Uzurano, Y. Yabuuchi, R. Ishiura, M. Yoneya, S. Nagano, A. Fujii, M. Ozaki, Jpn. J. Appl. Phys., 59, SDDA05M.

(2) Y. Yabuuchi, G. Uzurano, R. Ishiura, M. Nakatani, S. Nagano, A. Fujii, M. Ozaki, Jpn. J. Appl. Phys., 59, SDDA04M.

６．関連特許（Patent）

なし