利用報告書

粉体の特性評価
森 敦子1), 山田 展也1)
1) 株式会社ケミカルゲート

課題番号                :S-19-NU-0007

利用形態                :機器利用

利用課題名(日本語)    :粉体の特性評価

Program Title (English) :Characterization of powder

利用者名(日本語)      :森 敦子1), 山田 展也1)

Username (English)     :A. Mori1), N. Yamada1)

所属名(日本語)        :1) 株式会社ケミカルゲート

Affiliation (English)  :1) Chemical Gate Co.,Ltd.

 

 

 

1.概要(Summary )

粉体の微細構造、結晶構造、化学組成、並びに粒径等の特性を調査し、粉体の製造条件との関係を明らかにする。これにより、粉体の最適な物理化学特性を探索し、最終目標を達成できる特性を確立する。

 

2.実験(Experimental)

  • X線粉末回折装置による結晶構造解析

装置:リガクSmartLab 3K1d/2dDSC

試料粉体をガラス試料板上に引き延ばし、40KV, 30mAの条件で、10°〜80°までを5°/分または10°/分で測定した。

 

  • 走査型電子顕微鏡による粉体の微細構造観察

装置:JEOL社製JSM-7500F

試料粉末を試料台上にカーボンテープで固定し、

オスミウムコーティングして、低加速電圧条件で測定した。一部試料では組成分析を行うため、EDX分析も同時に行った。

 

 

 

 

 

 

Fig.1 粉体のSEM写真

 

 

 

3.結果と考察(Results and Discussion)

本実験結果から、粉体の製造条件が粉体特性に及ぼす影響を明らかにすることができた。具体的には、主な構成酸化物の化学組成と強度等の特性との関係を明らかにすることで、組成設計が可能になった他、粉体の原料種および原料濃度を変化させながら粉体の一次粒子径や微構造等を調整し、それが粉体特性に及ぼす影響を明らかにすることができた。これらにより、最終目標を達成できる粉体の最適な製造条件(パラメータ)を導き出すことができた。

 

4.その他・特記事項(Others)

X線粉末回折装置,粒径分布測定装置の利用に際 しては名古屋大学・伊藤始氏の、走査型電子顕微鏡の利用に際しては名古屋大学・林育生氏の支援を得た。

 

5.論文・学会発表(Publication/Presentation)

なし

 

6.関連特許(Patent)

なし

 

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