課題番号 ：S-20-KU-0047
利用形態 ：機器利用
利用課題名（日本語） ：高分子中の微量成分の劣化解析
Program Title (English) ：Degradation analysis of the minor components contained in polymers
利用者名（日本語） ：小西　利恵,　田部井　穂鷹,　阿部　芳巳
Username (English) ：Rie K., Hodaka T., Yoshimi A.
所属名（日本語） ：三菱ケミカル株式会社
Affiliation (English) ：Mitsubishi Chemical, Co., Ltd.

１．概要（Summary）
　高分子に含有される添加材の劣化状態や、劣化により生成された微量の着色原因成分について把握するため、LC/Q-TofMSを用いた高分解能質量測定を実施した。

２．実験（Experimental）
抽出やHPLC分取により、ポリマーから目的成分を分離し、超高速HPLC分離・分子構造分析システムの一部である、Bruker製micrOTOF-QⅢおよびそれに付随する島津製作所製HPLCを用いた分析を行った。

３．結果と考察（Results and Discussion）
　LC/Q-TofMSを活用して検討を行い、ポリマーより分離した添加剤や着色原因成分について、精密質量測定を活用した解析を行った。今回の解析結果およびNMR測定結果より、着目成分の構造を同定することができ、添加剤が劣化により酸化されていることや、ポリマーの酸化劣化により着色原因成分が生成していることを確認することができた。

４．その他・特記事項（Others）
なし。

５．論文・学会発表（Publication/Presentation）
なし。

６．関連特許（Patent）
なし。