| 透過型電子顕微鏡 日立社製 H-7600 |
加速電圧120ｋV 冷却フォルダー(-120℃) |
千歳大 |
| 高分解能透過型電子顕微鏡･HR-TEM 日立ハイテクノロジーズ社製 H-9000NAR |
加速電圧：300 kV 分析機能：EDS |
北陸先端大 |
| 透過型電子顕微鏡･TEM 日立ハイテクノロジーズ社製 H-7650 |
加速電圧：120 kV 分解能：0.2 nm(格子像)、0.36 nm（粒子像） 試料傾斜：±60° |
北陸先端大 |
| 原子分解能走査透過型電子顕微鏡･STEM 日本電子社製 JEM-ARM200F |
加速電圧：200 kV 分解能：0.08 nm（走査透過像） 0.19 nm（透過顕微鏡 粒子像） 0.10 nm（透過顕微鏡 格子像） 照射系収差補正装置：組み込み |
北陸先端大 |
| ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡（Cs-corrected TEM） 日本電子社製ＪＥＭ-2100Ｆ |
球面収差補正装置 EM-Z07167T 加速電圧：80～200kV CSレンズ装着 分析機能：EELS |
信州大 |
| 環境制御型透過電子顕微鏡（E-TEM) 日本電子社製ＪＥＭ-2100 |
加速電圧：～200kV ガス圧 ～90ｋＰａ 温度～1500℃ |
信州大 |
| 走査型透過電子顕微鏡（STEM） 日立製HD-2300A |
加速電圧：200 kV 倍率：低倍率モード100～1,000倍 高倍率モード：1,500～10,000,000倍 観察機能：明視野STEM，暗視野STEM 他 |
信州大 |
| 高分解能透過電子顕微鏡 日立製作所（株）社製 HF-2000 |
冷陰極電界放出型、加速電圧200kV、 分解能：0.1nm、EDX分析、 スロースキャンCCDカメラ |
名工大 |
| 特型透過電子顕微鏡装置 JEOL-JEM2010＋特型試料ステージ |
ピエゾ駆動探針を用いたナノ領域の電気特性、機械特性評価とその結晶構造との関係評価、その場抵抗加熱 |
名工大 |
| 原子分解能分析電子顕微鏡 日本電子（株）製 ARM200F |
分解能：0.1nm（TEM格子像），0.136nm（STEM明視野格子像）, 加速電圧：200kV，電子銃：W CFエミッタ |
名工大 |
| 透過型電子顕微鏡 日本電子社製JEM-3100FEF |
300kV, 粒子分解能0.17nm, EELS ミクロトーム |
分子研 |
| 透過型電子顕微鏡 日本電子社製透過電子顕微鏡 型番：JEM-3100FEF |
加速電圧：300kV 分析オプション： ・走査像観察(STEM) ・EDSによる元素分析 ・電子エネルギー損失分光 ・クライオシステム ・TEMトモグラフィーシステム |
奈良先端大 |
| 透過型電子顕微鏡システム 日本電子社製 JEM-2010 |
最高加速電圧：200kV、点分解能：0.23nm、加速電圧：120, 200kV |
九州大 |
