その他材料評価
粒子・分子径測定、ゼータ電位測定、分子量測定
| レーザーゼータ電位計 大塚電子製：ELSZ1000Z |
ゼータ電位：-200～200mV 光学系：レーザードップラー法 |
NIMS |
|---|---|---|
| パーティクルサイズアナライザー 島津製作所製 SALD-2100 |
測定範囲 0.03μm～1000μm 光源 半導体レーザ（波長680nm) |
NIMS |
| 動的光散乱 大塚電子製 DLS-8000 |
粒径測定範囲 ：1.4～7000nm | NIMS |
| 動的光散乱(DLS) Malvern製 Zetasizer Nano ZS |
粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定 | 名大 |
| 粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム 大塚電子製 ELSZ-2 |
光学系：レーザードップラー法（動的・電気泳動光散乱法） ゼータ電位： -200 ～ 200 mV 粒子径 ：0.6 nm ～ 7000 nm 温度：10 ～ 90℃ |
名大 |
| ナノ粒子解析装置（ゼータ－サイザー） シスメックス株式会社 NANO-ZS |
濃度0.1ppm～40％/Wでの測定可能 | 大阪大 |
| ゼータ電位／粒径測定システム 大塚電子 ELSZ-2 |
基板表面ゼータ電位測定可能 | 九州大 |
| ゼータサイザーゼータ電位・粒子径・分子量測定装置 マルバーン社製 Nano ZS |
ゼータ電位 3nm~10mm | 九州大 |
| 動的光散乱測定装置 Malvern社製 Zetasizer Nano ZS |
粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定 | 九州大 |
| 蒸気圧式絶対分子量測定装置 Gonotec社製 OSMOMAT 070 |
測定分子量：トルエン：50～50,000 Dalton (g/mol) 純水：50～5,000 Dalton (g/mol) | 九州大 |
| 蒸気圧式分子量測定装置 KNAUER社製 Vapor Pressure Osmometer K-7000 |
測定分子量 水：< 10,000 g/mol, 有機溶媒：40-40,000 g/mol | 九州大 |
熱測定
| 示差熱‐熱重量同時測定装置 SII社製 TG/DTA6200 |
温度範囲：常温-1100度 | 千歳大 |
|---|---|---|
| 熱重量測定装置(TG) 日立ハイテクサイエンス製 TG/DTA6200 |
室温〜1100℃ | 名大 |
| 示差走査熱量測定装置(DSC) 日立ハイテクサイエンス製 DSC6200 |
温度範囲：-150〜725℃、プログラム速度：0.01〜100℃/min | 名大 |
| 熱分析 MicroCal VP-DSC |
-10～130℃ | 分子研 |
| 熱分析 MicroCal iTC200 |
2～80℃ | 分子研 |
| 熱分析 TA Instruments TGA2950/ DSC2920/ SDT2960 |
RT～1000℃ | 分子研 |
| マイクロカロリメトリー MicroCal社 VP-ITC |
生体物質の相互作用分析 | 九州大 |
元素分析
| 元素分析装置 Perkin Elmer Series社製 II 2400 |
CHNS/O, 60 position autosampler | 千歳大 |
|---|---|---|
| 全自動元素分析装置 Perkin Elmer製2400Ⅱ CHNS/O |
CHNS/O | 名大 |
走査型透過軟X線顕微鏡
| 走査型透過軟X線顕微鏡 Bruker社製 UVSOR-II BL4U (100-700eV)利用。 |
空間分解能30nm、測定雰囲気 高真空～常圧 | 分子研 |
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太陽電池評価システム
| 分光計器社製；擬似太陽照射装置 （キセノン150W） Ｉ－Ｖテスタ（太陽電池出力測定、ダイオード出力測定、環境設定） ハイパーモノライトシステム（量子効率、分光感度測定） |
名工大 |
|---|
高分子計測装置群
| オートグラフ 島津製作所社製 AGS-H |
容量：1kN(100kgf) | 千歳大 |
|---|---|---|
| 誘電率測定装置 SII社製 DES100 |
測定範囲：3pF－0.1μF | 千歳大 |
| 示差熱‐熱重量同時測定装置 SII社製 TG/DTA6200 |
温度範囲：常温-1100度 | 千歳大 |
| 粘弾性スペクトロメータ SII社製 DMS6100 |
粘弾性スペクトロメータ 測定範囲：105~1012Pa（両持ち曲げ） |
千歳大 |
物性評価装置群
| 半導体デバイス・アナライザ Agilent社製 B1500A, B2900A |
GND×１, HPSMU×４, HRSMU×１, 容量測定ユニット×１ | 東北大 |
|---|---|---|
| 絶対PL量子収率測定装置 浜松ホトニクス社製 C9920-02G |
測定波長範囲 300nm～950nm | 東北大 |
| 光励起キャリア移動度測定装置 住友重機械メカトロニクス社製TOF-401 |
測定範囲 10-7～10-1 cm2/Vs | 東北大 |
3次元光学プロファイラーシステム
| 3次元光学プロファイラーシステム ZYGO社製 Newview7300 |
精密温度調整機能付クリーンブース | 分子研 |
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高精度ガス/蒸気吸着量測定
| 細胞探索マルチアナライザー群 高精度ガス/蒸気吸着量測定装置 日本ベル株式会社製 BELSORP-max |
細孔分布：直径0.35～500nm、 最小比表面積：0.01m2/g（N2） |
名工大 |
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