質量分析
| フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計･FT-ICR MS Bruker Daltonics Inc. FT-ICR MS Solarix-JA |
北陸先端大 | |
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| マトリックス支援レーザー脱離イオン化タンデム飛行時間型質量分析 Bruker Daltonics Inc. MALDI-TOF MS |
北陸先端大 | |
| エレクトロスプレイ質量分析(ESI-MS) JEOL製 JMS-T100CS |
名大 | |
| マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置 島津製作所(株)製 AXIMA-CFR Plus |
測定質量範囲： 1〜500000Da（リニアモード）/1〜60000Da（リフレクトロンモード） |
名大 |
| 質量分析装置（ESI-MS)： Micromass社製 ECT |
イオン化法：ESI, APCI、質量範囲：10～ 40000 Da、 分解能：5000 (FWHM) |
名工大 |
| MALDI-TOF質量分析計 Applied Biosystems製 Voyager DE-STR | ≧300,000Da | 分子研 |
| 二次イオン質量分析ナノデバイス加工システム 伯東株式会社 IBE-KDC75-EPD-OU-TA |
真空チャンバー：ステンレス製、冷却機能付 基板ホルダーステージ：直冷式、1 cm角～4インチウエハまで搭載可能、ドライチャック・メカニカルチャック方式 エッチング性能：エッチング均一性 ≦±6%（φ4インチに対しφ90 mm） 終点検知器：増幅率108以上の90度偏向型維持イオン電子倍増管付き四重極質量分析計終点検知器 膜厚測定器ステージ：φ150 mm X・Y・θ自動 |
大阪大 |
| MALDI-TOF質量分析装置 Bruker Daltonics社製 MALDI-TOF質量分析装置 型番：Autoflex II |
MALDIイオン化部：窒素レーザー ・リニアー/リフレクターモード 質量分析限界：～1,000,000 |
奈良先端大 |
| 動的二次イオン質量分析測定装置 Analysetechnik GmbH社製ATOMIKA SIMS 4000 |
四重極型、一次イオンビームソース：酸素とアルゴン、加速電圧：3 k – 15 kV、測定面積：250 μm – 1000 μm、深さ分解能：7 – 8 nm | 九州大 |
| 質量分析装置 JEOL社製 JMS-T100CS |
ESI/CSI兼用測定可能 低温（-100℃）におけるイオン化 |
九州大 |
| MALDI-TOF質量分析装置 BRUKER社製 Autoflex III |
タンパク質・ペプチドのMS/MSによる シークエンス解析、プロテオーム解析など |
九州大 |
FT-MS関連装置
| マトリックス塗布装置（Bruker Daltonics Inc. ImagePrep) | 北陸先端大 | |
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| 液体クロマトグラフィー （島津製作所製 Prominence) | 北陸先端大 | |
| 純水製造装置(ADVANTEC RFP343RB) | 北陸先端大 |
