質量分析
フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計・FT-ICR MS Bruker Daltonics Inc. FT-ICR MS Solarix-JA |
北陸先端大 | |
---|---|---|
マトリックス支援レーザー脱離イオン化タンデム飛行時間型質量分析 Bruker Daltonics Inc. MALDI-TOF MS |
北陸先端大 | |
エレクトロスプレイ質量分析(ESI-MS) JEOL製 JMS-T100CS |
名大 | |
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置 島津製作所(株)製 AXIMA-CFR Plus |
測定質量範囲: 1〜500000Da(リニアモード)/1〜60000Da(リフレクトロンモード) |
名大 |
質量分析装置(ESI-MS): Micromass社製 ECT |
イオン化法:ESI, APCI、質量範囲:10~ 40000 Da、 分解能:5000 (FWHM) |
名工大 |
MALDI-TOF質量分析計 Applied Biosystems製 Voyager DE-STR | ≧300,000Da | 分子研 |
二次イオン質量分析ナノデバイス加工システム 伯東株式会社 IBE-KDC75-EPD-OU-TA |
真空チャンバー:ステンレス製、冷却機能付 基板ホルダーステージ:直冷式、1 cm角~4インチウエハまで搭載可能、ドライチャック・メカニカルチャック方式 エッチング性能:エッチング均一性 ≦±6%(φ4インチに対しφ90 mm) 終点検知器:増幅率108以上の90度偏向型維持イオン電子倍増管付き四重極質量分析計終点検知器 膜厚測定器ステージ:φ150 mm X・Y・θ自動 |
大阪大 |
MALDI-TOF質量分析装置 Bruker Daltonics社製 MALDI-TOF質量分析装置 型番:Autoflex II |
MALDIイオン化部:窒素レーザー ・リニアー/リフレクターモード 質量分析限界:~1,000,000 |
奈良先端大 |
動的二次イオン質量分析測定装置 Analysetechnik GmbH社製ATOMIKA SIMS 4000 |
四重極型、一次イオンビームソース:酸素とアルゴン、加速電圧:3 k – 15 kV、測定面積:250 μm – 1000 μm、深さ分解能:7 – 8 nm | 九州大 |
質量分析装置 JEOL社製 JMS-T100CS |
ESI/CSI兼用測定可能 低温(-100℃)におけるイオン化 |
九州大 |
MALDI-TOF質量分析装置 BRUKER社製 Autoflex III |
タンパク質・ペプチドのMS/MSによる シークエンス解析、プロテオーム解析など |
九州大 |
FT-MS関連装置
マトリックス塗布装置(Bruker Daltonics Inc. ImagePrep) | 北陸先端大 | |
---|---|---|
液体クロマトグラフィー (島津製作所製 Prominence) | 北陸先端大 | |
純水製造装置(ADVANTEC RFP343RB) | 北陸先端大 |