その他材料評価
粒子・分子径測定、ゼータ電位測定、分子量測定
レーザーゼータ電位計 大塚電子製:ELSZ1000Z |
ゼータ電位:-200~200mV 光学系:レーザードップラー法 |
NIMS |
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パーティクルサイズアナライザー 島津製作所製 SALD-2100 |
測定範囲 0.03μm~1000μm 光源 半導体レーザ(波長680nm) |
NIMS |
動的光散乱 大塚電子製 DLS-8000 |
粒径測定範囲 :1.4~7000nm | NIMS |
動的光散乱(DLS) Malvern製 Zetasizer Nano ZS |
粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定 | 名大 |
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム 大塚電子製 ELSZ-2 |
光学系:レーザードップラー法(動的・電気泳動光散乱法) ゼータ電位: -200 ~ 200 mV 粒子径 :0.6 nm ~ 7000 nm 温度:10 ~ 90℃ |
名大 |
ナノ粒子解析装置(ゼータ-サイザー) シスメックス株式会社 NANO-ZS |
濃度0.1ppm~40%/Wでの測定可能 | 大阪大 |
ゼータ電位/粒径測定システム 大塚電子 ELSZ-2 |
基板表面ゼータ電位測定可能 | 九州大 |
ゼータサイザーゼータ電位・粒子径・分子量測定装置 マルバーン社製 Nano ZS |
ゼータ電位 3nm~10mm | 九州大 |
動的光散乱測定装置 Malvern社製 Zetasizer Nano ZS |
粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定 | 九州大 |
蒸気圧式絶対分子量測定装置 Gonotec社製 OSMOMAT 070 |
測定分子量:トルエン:50~50,000 Dalton (g/mol) 純水:50~5,000 Dalton (g/mol) | 九州大 |
蒸気圧式分子量測定装置 KNAUER社製 Vapor Pressure Osmometer K-7000 |
測定分子量 水:< 10,000 g/mol, 有機溶媒:40-40,000 g/mol | 九州大 |
熱測定
示差熱‐熱重量同時測定装置 SII社製 TG/DTA6200 |
温度範囲:常温-1100度 | 千歳大 |
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熱重量測定装置(TG) 日立ハイテクサイエンス製 TG/DTA6200 |
室温〜1100℃ | 名大 |
示差走査熱量測定装置(DSC) 日立ハイテクサイエンス製 DSC6200 |
温度範囲:-150〜725℃、プログラム速度:0.01〜100℃/min | 名大 |
熱分析 MicroCal VP-DSC |
-10~130℃ | 分子研 |
熱分析 MicroCal iTC200 |
2~80℃ | 分子研 |
熱分析 TA Instruments TGA2950/ DSC2920/ SDT2960 |
RT~1000℃ | 分子研 |
マイクロカロリメトリー MicroCal社 VP-ITC |
生体物質の相互作用分析 | 九州大 |
元素分析
元素分析装置 Perkin Elmer Series社製 II 2400 |
CHNS/O, 60 position autosampler | 千歳大 |
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全自動元素分析装置 Perkin Elmer製2400Ⅱ CHNS/O |
CHNS/O | 名大 |
走査型透過軟X線顕微鏡
走査型透過軟X線顕微鏡 Bruker社製 UVSOR-II BL4U (100-700eV)利用。 |
空間分解能30nm、測定雰囲気 高真空~常圧 | 分子研 |
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太陽電池評価システム
分光計器社製;擬似太陽照射装置 (キセノン150W) I-Vテスタ(太陽電池出力測定、ダイオード出力測定、環境設定) ハイパーモノライトシステム(量子効率、分光感度測定) |
名工大 |
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高分子計測装置群
オートグラフ 島津製作所社製 AGS-H |
容量:1kN(100kgf) | 千歳大 |
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誘電率測定装置 SII社製 DES100 |
測定範囲:3pF-0.1μF | 千歳大 |
示差熱‐熱重量同時測定装置 SII社製 TG/DTA6200 |
温度範囲:常温-1100度 | 千歳大 |
粘弾性スペクトロメータ SII社製 DMS6100 |
粘弾性スペクトロメータ 測定範囲:105~1012Pa(両持ち曲げ) |
千歳大 |
物性評価装置群
半導体デバイス・アナライザ Agilent社製 B1500A, B2900A |
GND×1, HPSMU×4, HRSMU×1, 容量測定ユニット×1 | 東北大 |
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絶対PL量子収率測定装置 浜松ホトニクス社製 C9920-02G |
測定波長範囲 300nm~950nm | 東北大 |
光励起キャリア移動度測定装置 住友重機械メカトロニクス社製TOF-401 |
測定範囲 10-7~10-1 cm2/Vs | 東北大 |
3次元光学プロファイラーシステム
3次元光学プロファイラーシステム ZYGO社製 Newview7300 |
精密温度調整機能付クリーンブース | 分子研 |
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高精度ガス/蒸気吸着量測定
細胞探索マルチアナライザー群 高精度ガス/蒸気吸着量測定装置 日本ベル株式会社製 BELSORP-max |
細孔分布:直径0.35~500nm、 最小比表面積:0.01m2/g(N2) |
名工大 |
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